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07-04-2021 | auteure: Dr. Brooke Matat Jablon
La diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD) est une technique basée sur un microscope électronique à balayage (MEB) qui fournit des informations cristallographiques sur la microstructure d'un échantillon. Dans l’EBSD, un faisceau d'électrons interagit avec un échantillon cristallin incliné et génère un cliché. Le cliché est caractéristique de l'orientation cristalline de l'échantillon où il a été généré. Par conséquent, le cliché peut être utilisé pour déterminer l'orientation des cristaux, faire la distinction entre des phases cristallographiquement différentes, caractériser les joints de grains et fournir des informations sur les imperfections cristallines.
Cette deuxième série de blog couvrira la préparation d’échantillon, la génération de clichés Kikuchi, des conseils pour l’acquisition des données, la diffraction en transmission des clichés Kikuchi (TKD) et bien d’autres sujets.
Un système EBSD se compose de nombreuses parties qui sont toutes nécessaires pour effectuer votre analyse EBSD.
Figure 1. (à gauche) Les composants d'un système EBSD. (à droite) Acquisition simultanée de données EDS et EBSD.
Dans ce blog, nous avons introduit les différents éléments d’un système EBSD. Dans le prochain blog EBSD, nous discuterons de l’interprétation des clichés Kikuchi.
Les détecteurs EBSD sont courants dans les microscopes électroniques à balayage. Pour en savoir plus sur l’EBSD ou pour planifier une démonstration, contactez un spécialiste des applications d'Oxford Instruments ici.