La diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD) est une technique basée sur un microscope électronique à balayage (MEB) qui fournit des informations cristallographiques sur la microstructure d'un échantillon. Dans l’EBSD, un faisceau d'électrons interagit avec un échantillon cristallin incliné et génère un cliché. Le cliché est caractéristique de l'orientation cristalline de l'échantillon où il a été généré. Par conséquent, le cliché peut être utilisé pour déterminer l'orientation des cristaux, faire la distinction entre des phases cristallographiquement différentes, caractériser les joints de grains et fournir des informations sur les imperfections cristallines.

Cette série de blog couvrira la préparation d’échantillon, la génération de clichés Kikuchi, des conseils pour l’acquisition des données, la diffraction en transmission des clichés Kikuchi (TKD) et bien d’autres sujets. Dans le blog précédent, nous avons parlé de l’affichage des données d'orientation. Ici nous aborderons les cartes d’EBSD de couches de pixels.

Le logiciel de post-traitement des données EBSD permet aux utilisateurs de définir des couches de cartes pour leurs ensembles de données. Chaque carte peut être constituée d'une ou plusieurs couches cartographiques, chacune pouvant être configurée pour permettre l'affichage d'aspects spécifiques des données.

Il existe trois principaux types ou catégories de cartes :

• Couches de pixels : couches de carte qui correspondent à des mesures effectuées à des points de grille ou des pixels spécifiques (par exemple, carte de phase ou carte de désorientation moyenne du noyau qui affiche la désorientation locale).
• Couches de grains : couches de carte qui affichent les propriétés des grains (par exemple, une carte des paramètres des grains qui permet d'afficher une gamme de différentes mesures morphologiques des grains dans une carte).
• Couches de limites : couches de carte qui affichent des propriétés de joints spécifiques.

Plusieurs types de couches cartographiques peuvent être utilisés dans la même carte (figure 1).

Figure 1. Une carte avec plusieurs couches ; contraste de bande, figure polaire inverse Z qui, et carte de joints de grains (noires) qui sont une carte de couche limite.

Vous trouverez ci-dessous une liste sélectionnée de cartes de couches de pixels et une description de leur utilisation.

• Band Contrast: carte de qualité du cliché qui révèle clairement les limites des grains et certaines microstructures de l'échantillon, y compris les zones de forte contrainte.
• Band Slope: carte de qualité du cliché qui montre une nette différence de contraste entre les grains, la concentration des défauts de réseau et la netteté du cliché. Peut être utilisé pour faire la distinction entre deux phases présentant des contenus de défauts différents.
• Pattern Misfit : montre dans quelle mesure les bandes Kikuchi simulées correspondent aux positions mesurées des bandes.
• All Euler : Carte d'orientation qui utilise les trois angles d'Euler.
• Désorientation moyenne du noyau : affiche la position des limites subtiles des grains à faible angle (désorientation locale).
• Kernel Average Misorientation (KAM) : affiche de petits changements d'orientation permettant de mettre en évidence les régions de forte déformation.
• GND Density: affiche les densités de dislocation géométriquement nécessaires (GND), dérivées des gradients d'orientation locaux.
• Schmid Factor: donne une indication de la facilité avec laquelle un glissement se produit pour un système de glissement particulier.
• Texture Components: permet de mettre en évidence les données ayant une texture particulière.
• Phase Map: affiche la répartition des phases en attribuant une couleur à chaque phase.
• IPF coloring : affiche la coloration de la figure polaire inverse dans la direction X, Y ou Z.

Comme vous pouvez le constater, superposer les cartes avec les cartes des deux autres catégories de cartes peut aider les chercheurs à interpréter leurs données. Dans ce blog, nous avons parlé des différentes cartes EBSD, plus précisément des cartes de couches de pixels. Dans le prochain blog, nous traiterons des différentes cartes EBSD, notamment les cartes de couches de grains.

Si vous avez des suggestions ou des questions, vous pouvez les transmettre ici.

Les détecteurs EBSD sont courants dans les microscopes électroniques à balayage. Pour en savoir plus sur l’EBSD ou pour planifier une démonstration, contactez un spécialiste des applications d'Oxford Instruments ici.

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