La diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD) est une technique basée sur un microscope électronique à balayage (MEB) qui fournit des informations cristallographiques sur la microstructure d'un échantillon. Dans l’EBSD, un faisceau d'électrons interagit avec un échantillon cristallin incliné et génère un cliché. Le cliché est caractéristique de l'orientation cristalline de l'échantillon où il a été généré. Par conséquent, le cliché peut être utilisé pour déterminer l'orientation des cristaux, faire la distinction entre des phases cristallographiquement différentes, caractériser les joints de grains et fournir des informations sur les imperfections cristallines.

Cette série de blog couvrira la préparation d’échantillon, la génération de clichés Kikuchi, des conseils pour l’acquisition des données, la diffraction en transmission des clichés Kikuchi (TKD) et bien d’autres sujets. Dans le blog précédent, nous avons parlé de la texture d’un échantillon représenté sur une carte EBSD. Ici nous parlerons des représentations de l'orientation dans une carte EBSD.

Les cartes sont le moyen le plus courant de représenter les données EBSD. La technique, avec la collecte automatisée rapide de données d'orientation et de phase à partir d'une grille de points sur la surface d'un échantillon, se prête à l'affichage de données sous forme de carte.

Une carte qui est presque toujours utilisé comme point de départ pour toute analyse EBSD est une carte d'orientation. Les données d'orientation collectées avec un système EBSD sont le plus souvent affichées soit sur une carte d’Euler, soit sur une série de cartes à figures polaires inverses (IPF). Les cartes d'Euler donnent une présentation de base de la microstructure mais, étant donné la nature du schéma de mesure d'Euler, elles peuvent être difficiles à interpréter. Les cartes IPF utilisent la couleur de la clé de couleur IPF. Dans ce cas, la couleur attribuée est basée sur l'orientation mesurée et la direction de visualisation sélectionnée. Une carte IPF est efficace pour représenter l'orientation préférée (texture), considérée comme des couleurs similaires ou uniques dans la carte. Les données d'orientation affichées sur une carte facilitent la visualisation et l'extraction d'informations sur la façon dont une texture spécifique est distribuée dans l'espace.

Ceci est montré sur la figure 1, à partir d'une roche de quartz. La grande zone rouge en haut à gauche indique la présence d'un seul gros grain, tandis que la région à grain plus fin peut être considérée comme contenant 2 orientations préférées différentes, une avec une couleur dominante verte/bleue et une principalement en rouge. La carte d'orientation fournit une illustration instantanée de la texture globale.

Figure 1. Carte d'orientation EBSD d'une roche de quartz déformée, montrant à chaque point quelle direction cristalline est parallèle à la direction X de l'échantillon (une carte "IPF-X"), comme indiqué dans la légende.

Il est important de noter qu'une seule carte d'orientation utilisant un schéma de coloration IPF n'est pas suffisante pour déterminer complètement la texture à chaque point. C'est toutefois un excellent point de départ pour une mini-série sur différentes cartes EBSD. Celui-ci sera divisé en trois sections; cartes de couches de pixels, de couches de grains et de couches des joints de grains.

Dans ce blog, nous avons parlé de l’affichage des données d'orientation. Dans le prochain blog, nous traiterons des différentes cartes EBSD, en particulier des cartes de couches de pixels. Si vous avez des suggestions ou des questions, vous pouvez les transmettre ici.

Les détecteurs EBSD sont courants dans les microscopes électroniques à balayage. Pour en savoir plus sur l’EBSD ou pour planifier une démonstration, contactez un spécialiste des applications d'Oxford Instruments ici.

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