La diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD) est une technique basée sur un microscope électronique à balayage (MEB) qui fournit des informations cristallographiques sur la microstructure d'un échantillon. Dans l’EBSD, un faisceau d'électrons interagit avec un échantillon cristallin incliné et génère un cliché. Le cliché est caractéristique de l'orientation cristalline de l'échantillon où il a été généré. Par conséquent, le cliché peut être utilisé pour déterminer l'orientation des cristaux, faire la distinction entre des phases cristallographiquement différentes, caractériser les joints de grains et fournir des informations sur les imperfections cristallines.

Cette série de blog couvrira la préparation d’échantillon, la génération de clichés Kikuchi, des conseils pour l’acquisition des données, la diffraction en transmission des clichés Kikuchi (TKD) et bien d’autres sujets. Dans le blog précédent, nous avons parlé des distributions d’orientation. Ici nous nous intéresserons aux cartes et texture.

Comme mentionné précédemment, l'EBSD présente un avantage significatif par rapport aux autres techniques de mesure de texture en ce que les textures peuvent être directement liées à la microstructure. En d'autres termes, il est possible d'observer des variations de texture locales au sein d'un échantillon et de les relier à d'autres aspects de la microstructure (tels que la distribution de phase, la déformation ou la taille des grains).

Les cartes d'orientation standards (comme indiqué dans l'onglet suivant) mettent en évidence les textures, mais il est également possible de tracer des cartes de composants de texture spécifiques. Celles-ci montrent les points de mesure qui ont une orientation à l'intérieur d'un seuil d'écart prédéfini par rapport à une certaine texture, et peuvent mettre en évidence très efficacement les variations locales de texture.

Dans la figure 1, des cartes ont été tracées à partir du même échantillon de laiton au plomb qui a été montré dans la section des figures de pôles ci-dessus, mettant en évidence la texture dans la phase β-laiton.

Figure 1. Analyse de texture d'un échantillon de laiton au plomb. Gauche – carte de phase ; rouge - plomb, jaune - α-laiton, bleu - β-laiton. Centre – carte montrant la force du <110> || Texture dans la direction Z dans le laiton β. Droite – clé de couleur pour la texture β-laiton montrant l'écart par rapport à l'idéal <110>|| texture.

Dans ce blog, nous avons parlé des textures en cartes EBSD. Dans le prochain blog, nous traiterons des cartes de joints de grains. Si vous avez des suggestions ou des questions, vous pouvez les transmettre ici.

Les détecteurs EBSD sont courants dans les microscopes électroniques à balayage. Pour en savoir plus sur l’EBSD ou pour planifier une démonstration, contactez un spécialiste des applications d'Oxford Instruments ici.

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