La diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD) est une technique basée sur un microscope électronique à balayage (MEB) qui fournit des informations cristallographiques sur la microstructure d'un échantillon. Dans l’EBSD, un faisceau d'électrons interagit avec un échantillon cristallin incliné et génère un cliché. Le cliché est caractéristique de l'orientation cristalline de l'échantillon où il a été généré. Par conséquent, le cliché peut être utilisé pour déterminer l'orientation des cristaux, faire la distinction entre des phases cristallographiquement différentes, caractériser les joints de grains et fournir des informations sur les imperfections cristallines.

Cette série de blog couvrira la préparation d’échantillon, la génération de clichés Kikuchi, des conseils pour l’acquisition des données, la diffraction en transmission des clichés Kikuchi (TKD) et bien d’autres sujets. Dans le blog précédent, nous avons parlé des figures de pôle inverse (IPF). Ici nous expliquerons comment tracer des textures dans AztecCrystal (Plotting Texture en anglais).

Il existe 2 manières de tracer des textures :

1. Tracez les données d'orientation mesurées absolues directement dans les figures polaires / figures polaires inverses. C'est ce que nous faisons dans AZtecCrystal - chaque mesure d'orientation est représentée par un point de données dans le PF/IPF pertinent, puis nous appliquons un contour sur la surface de la sphère afin de mettre en évidence les orientations préférées (textures), Figure 1. Nous pouvons également imposer également la symétrie de l'échantillon.

2. Nous pouvons lisser les données en une représentation continue en utilisant le développement en série en harmoniques sphériques généralisés - c'est la fonction de distribution d'orientation (ODF). En effet, les orientations sont modélisées à l'aide de la théorie des probabilités et l'ODF nous donne la probabilité qu'un point ait une orientation spécifique.

Figure 1. Exemple de figure de pôle profilée en densité de la phase de laiton β dans un échantillon de laiton au plomb. Le regroupement des données dans la figure polaire centrale {110} indique une fibre forte <110> parallèle à la direction Z.

Dans AZtecCrystal, nous calculons les figures de pole en utilisant l'approche directe, et les ODF ne sont utilisées que pour tracer dans l'espace d'Euler. Les ODF peuvent être tracées en utilisant l'approche des harmoniques sphériques ou une méthode de lissage gaussien.

Les résultats sont généralement similaires en utilisant les méthodes directes et indirectes, mais vous pouvez être sûr que la méthode de traçage de figure de pole directe ne sera affectée par aucune variable dans vos méthodes de calcul ODF, telles que la valeur Lmax utilisée pour les calculs d'harmoniques sphériques.

Dans ce blog, nous avons parlé des ‘plotting textures ‘. Dans le prochain blog, nous traiterons des figures de distribution d’orientation. Si vous avez des suggestions ou des questions, vous pouvez les transmettre ici.

Les détecteurs EBSD sont courants dans les microscopes électroniques à balayage. Pour en savoir plus sur l’EBSD ou pour planifier une démonstration, contactez un spécialiste des applications d'Oxford Instruments ici.

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