Qu’est-ce que l’EBSD – la transformée de Hough

La diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD) est une technique basée sur un microscope électronique à balayage (MEB) qui fournit des informations cristallographiques sur la microstructure d'un échantillon. Dans l’EBSD, un faisceau d'électrons interagit avec un échantillon cristallin incliné et génère un cliché. Le cliché est caractéristique de l'orientation cristalline de l'échantillon où il a été généré. Par conséquent, le cliché peut être utilisé pour déterminer l'orientation des cristaux, faire la distinction entre des phases cristallographiquement différentes, caractériser les joints de grains et fournir des informations sur les imperfections cristallines.

Cette deuxième série de blog couvrira la préparation d’échantillon, la génération de clichés Kikuchi, des conseils pour l’acquisition des données, la diffraction en transmission des clichés Kikuchi (TKD) et bien d’autres sujets. Dans l’article précédent, nous avons parlé de l’indexation automatique des EBSPs et du calcul d’orientation crystallographique. Dans ce blog, nous traiterons de la transformée de Hough.

La transformée de Hough, qui identifie les positions des bandes de Kikuchi, convertit l'image de la caméra EBSD en une représentation dans l'espace de Hough, en utilisant la relation suivante entre les points (x, y) du diagramme de diffraction et les coordonnées (ρ, θ) de l'espace de Hough : ρ = x cosθ + y sinθ. Une ligne droite dans l'espace image (x, y) peut être caractérisée par ρ, la distance perpendiculaire de la ligne à l'origine et , l'angle fait avec l'axe des x, et peut être représentée par un seul point (ρ, θ ) dans l'espace de Hough (Figure 1).

Figure 1. La transformée de Hough convertit les lignes en points dans l'espace de Hough.

Les bandes Kikuchi apparaissent sous forme de régions ou de pics brillants dans l'espace de Hough, qui sont facilement détectés et utilisés pour calculer les positions des bandes d'origine (Figure 2).

Figure 2. (de gauche à droite) Diagramme de diffraction collecté à partir de silicium à une tension d'accélération de 20 kV ; Les pics de la transformée de Hough identifiés et colorés ; Les bandes du diagramme de diffraction d'origine correspondant aux pics trouvés dans la transformée de Hough et colorées de la même manière ; Le motif de diffraction indexé avec la croix bleue indiquant la position du centre du motif.

Dans ce blog, nous avons etudié la transformée de Hough. Dans le prochain blog EBSD, nous discuterons des calcul des angles entre les bandes détectées. Cette étape est effectuée automatiquement par le logiciel et les angles calculés sont comparés à une liste d'angles interplanaires pour la ou les structures analysées sur la base d'un nombre sélectionné de plans réfléchissants (réflecteurs) dans la structure de référence, mais la compréhension des calculs vous aidera interpréter vos données.

Certains articles à venir du blog seront de courtes vidéos de 30 secondes à une minute répondant aux questions des clients. Si vous avez une question à laquelle vous aimeriez recevoir une réponse au format vidéo, veuillez nous envoyer un courriel ici.

Les détecteurs EBSD sont courants dans les microscopes électroniques à balayage. Pour en savoir plus sur l’EBSD ou pour planifier une démonstration, contactez un spécialiste des applications d'Oxford Instruments ici.

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