La diffraction électronique rétrodiffusée (EBSD) est une technique basée sur un microscope électronique à balayage (MEB) qui fournit des informations cristallographiques sur la microstructure d'un échantillon. Dans l’EBSD, un faisceau d'électrons interagit avec un échantillon cristallin incliné et génère un cliché. Le cliché est caractéristique de l'orientation cristalline de l'échantillon où il a été généré. Par conséquent, le cliché peut être utilisé pour déterminer l'orientation des cristaux, faire la distinction entre des phases cristallographiquement différentes, caractériser les joints de grains et fournir des informations sur les imperfections cristallines.

Cette série de blog couvrira la préparation d’échantillon, la génération de clichés Kikuchi, des conseils pour l’acquisition des données, la diffraction en transmission des clichés Kikuchi (TKD) et bien d’autres sujets. Dans le blog précédent, nous avons parlé des cartes d’EBSD de couches de pixels. Ici nous aborderons les cartes d’EBSD de couches de grains.

Le logiciel de post-traitement des données EBSD permet aux utilisateurs de définir des couches de cartes pour leurs ensembles de données. Chaque carte peut être constituée d'une ou plusieurs couches cartographiques, chacune pouvant être configurée pour permettre l'affichage d'aspects spécifiques des données.

Il existe trois principaux types ou catégories de cartes : couches de pixels, couches de grains et couches de joints de grain. Plusieurs types de couches cartographiques peuvent être utilisés dans la même carte (figure 1).

Figure 1. Une carte avec plusieurs couches ; contraste de bande, Écart d'orientation des grains (GOS)- cartes de couches des grains, et carte de joints de grains (noirs et gris) qui sont une carte de couche joints.

Vous trouverez ci-dessous une liste de cartes de couches des grains et une description de leur utilisation.

Les couches de carte à grille de couleurs actuellement disponibles incluent :

• Paramètre de grain : permet d'afficher une gamme de différentes mesures morphologiques des grains dans une carte.
• Écart d'orientation des grains (GOS) : affiche la valeur moyenne de l'écart d'orientation pour chaque grain.
• Statistiques internes des grains : permet d'afficher une gamme de paramètres statistiques associés aux grains.
• Angle GROD : permet de visualiser toutes les sous-structures de l'échantillon.
• Axe GROD : permet de visualiser toutes les sous-structures de l'échantillon.
• Coloration de désorientation : attribue des couleurs aux orientations intra-grains afin de mettre en évidence les structures subtiles des grains internes.
• Grains en couleurs aléatoires : affiche les grains sur la carte dans différentes couleurs.

Comme vous pouvez le constater, superposer les cartes avec les cartes des deux autres catégories de cartes peut aider les chercheurs à interpréter leurs données. Dans ce blog, nous avons parlé des différentes cartes EBSD, plus précisément des cartes de couches de grains. Dans le prochain blog, nous traiterons des différentes cartes EBSD, notamment les cartes de couches de joints de grains.

Si vous avez des suggestions ou des questions, vous pouvez les transmettre ici.

Les détecteurs EBSD sont courants dans les microscopes électroniques à balayage. Pour en savoir plus sur l’EBSD ou pour planifier une démonstration, contactez un spécialiste des applications d'Oxford Instruments ici.

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